導(dǎo)語(yǔ)：如何才能寫(xiě)好一篇集成測(cè)試，這就需要搜集整理更多的資料和文獻(xiàn)，歡迎閱讀由公務(wù)員之家整理的十篇范文，供你借鑒。

篇1

在上期欄目中我們給大家介紹了應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)的新方法，本期我們將詳細(xì)介紹UML圖表和美科利質(zhì)量中心的詳細(xì)解決方案，并對(duì)公司在UML和美科利質(zhì)量中心集成中所獲的體驗(yàn)和結(jié)果進(jìn)行陳述。

使用UML活動(dòng)圖表和美科利質(zhì)量中心的詳細(xì)步驟如下：

1.確認(rèn)模塊：小組首先應(yīng)該對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行分析，把系統(tǒng)細(xì)化成邏輯分類(lèi)、模塊和子模塊。子模塊應(yīng)該是一些小型的、可管理的組成部分，可以便捷地添加入活動(dòng)圖表中。每個(gè)子模塊都分配有一個(gè)特定ID。

2.描繪活動(dòng)圖表：使用Visio，為每個(gè)子模塊創(chuàng)建一個(gè)詳細(xì)的UML活動(dòng)圖表。每個(gè)活動(dòng)圖表顯示用戶(hù)和系統(tǒng)的系列行為，如“用戶(hù)做了x”，接下來(lái)“系統(tǒng)做了y”，并且顯示各類(lèi)判斷點(diǎn)。由于在美科利質(zhì)量中心里創(chuàng)建和維護(hù)測(cè)試案例(TC)和測(cè)試包(TS)所依照的主要文檔是活動(dòng)圖表，因此在任何數(shù)據(jù)輸入到美科利質(zhì)量中心之前，必須確保活動(dòng)圖表的正確性和完整性。接著圍繞每個(gè)邏輯測(cè)試案例畫(huà)一個(gè)虛線框，并標(biāo)以TC01、TC02、TC03，依此類(lèi)推。這些測(cè)試案例為步驟4中的測(cè)試包(測(cè)試場(chǎng)景)提供構(gòu)建模塊。

在活動(dòng)圖表中定義的測(cè)試案例和在美科利質(zhì)量中心的TestDirector中創(chuàng)建的測(cè)試案例之間存在一對(duì)一的對(duì)等關(guān)系。為了避免錯(cuò)誤，需要將Visio活動(dòng)圖表中的內(nèi)容復(fù)制和粘貼到美科利質(zhì)量中心內(nèi)。在活動(dòng)圖表中，每個(gè)測(cè)試案例可以由若干驗(yàn)證點(diǎn)所組成。在美科利質(zhì)量中心內(nèi)，每個(gè)驗(yàn)證點(diǎn)都以獨(dú)立的測(cè)試步驟輸入，從而確保通過(guò)/失敗可以互為分離。

3.輸入測(cè)試案例：一旦在活動(dòng)圖表中確定了測(cè)試案例，就在美科利質(zhì)量中心的測(cè)試計(jì)劃樹(shù)型圖中為每個(gè)測(cè)試案例創(chuàng)建節(jié)點(diǎn)。這些測(cè)試案例節(jié)點(diǎn)應(yīng)該顯示在他們各自的子模塊節(jié)點(diǎn)下。接著通過(guò)復(fù)制和粘貼活動(dòng)圖表中的內(nèi)容，為每個(gè)測(cè)試案例輸入測(cè)試步驟。

4.集合測(cè)試案例，形成測(cè)試包：在美科利質(zhì)量中心的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室樹(shù)型圖中，為每個(gè)處于相應(yīng)模塊節(jié)點(diǎn)下的測(cè)試包創(chuàng)建節(jié)點(diǎn)。一個(gè)測(cè)試包―或測(cè)試場(chǎng)景由兩個(gè)或多個(gè)測(cè)試案例所組成，他們被聯(lián)系在一起用于測(cè)試某個(gè)子模塊的特定區(qū)域。通過(guò)查看活動(dòng)圖表，QA分析人員可以初步了解需要多少個(gè)測(cè)試案例組合才能全面測(cè)試一個(gè)子模塊。

例如，如果圖表顯示TC01緊隨其后是TC02，接著分叉至TC03、TC04和TC05，那么分析人員將要?jiǎng)?chuàng)建一個(gè)數(shù)據(jù)包，把TC01、TC02和TC03聯(lián)系在一起，另外一個(gè)數(shù)據(jù)包把TC01、TC02和TC04聯(lián)系起來(lái)，依此類(lèi)推。這種測(cè)試包創(chuàng)建過(guò)程要涵蓋所有的合理組合。通過(guò)這種方式，才能用測(cè)試案例庫(kù)開(kāi)發(fā)足夠多的測(cè)試場(chǎng)景，從而確保全面、有效和系統(tǒng)的展開(kāi)測(cè)試。

5.為測(cè)試包安裝數(shù)據(jù)文件：在每個(gè)測(cè)試包中，有些測(cè)試案例可能需要數(shù)據(jù)文件，如用戶(hù)輸入的或系統(tǒng)檢測(cè)的數(shù)據(jù)值。根據(jù)要求將這些值輸入美科利質(zhì)量中心的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。

6.執(zhí)行測(cè)試包：無(wú)論從Execution Grid tab，還是從Execution Flow tab中，點(diǎn)擊“運(yùn)行”按鈕來(lái)執(zhí)行整個(gè)測(cè)試包或者單單執(zhí)行測(cè)試包中的某些測(cè)試案例。在每個(gè)測(cè)試案例實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化之前，建議使用美科利TestDirector，對(duì)每個(gè)測(cè)試案例至少執(zhí)行一次成功的手動(dòng)測(cè)試。

7.為每個(gè)測(cè)試案例編寫(xiě)自動(dòng)化腳本：一旦測(cè)試案例至少經(jīng)歷了一次手動(dòng)運(yùn)行，就要為測(cè)試案例創(chuàng)建一個(gè)自動(dòng)化腳本。由介于測(cè)試案例層面上的美科利TestDirector來(lái)生成自動(dòng)化腳本。使用了美科利QuickTest Professional。當(dāng)然，任何美科利TestDirector支持的自動(dòng)化工具都可以被使用。

由于創(chuàng)建各種測(cè)試包組合需要多次使用測(cè)試案例，每個(gè)測(cè)試案例和自動(dòng)化測(cè)試腳本都是可重復(fù)使用的組件。這樣不僅理順了測(cè)試包的開(kāi)發(fā)過(guò)程，也提高了維護(hù)工作的效率。對(duì)測(cè)試案例所作的任何變更都會(huì)自動(dòng)反映在使用該測(cè)試案例的所有測(cè)試包中，從而避免了在多個(gè)方位更新相同的信息。

美科利TestDirector架構(gòu)的客戶(hù)定制

實(shí)施了美科利TestDirector的客戶(hù)定制，下面是變更的詳細(xì)過(guò)程：

測(cè)試包的創(chuàng)建和腳本的選擇

測(cè)試包的結(jié)構(gòu)如下所示 ：

Initialize Environment

Test Script Instance_1

Test Script Instance_2

Test Script Instance_N

InitializeEnvironment是一種特殊的腳本，用于處理測(cè)試包執(zhí)行時(shí)的所有初始化需求。使用腳本的確切方位由設(shè)定在美科利QuickTest Professional中的執(zhí)行參數(shù)決定。當(dāng)創(chuàng)建測(cè)試包、并且還沒(méi)有相關(guān)測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，使用美科利TestDirector OTA APIs可以自動(dòng)將腳本加入測(cè)試包。

測(cè)試包創(chuàng)建完成后，測(cè)試人員可以根據(jù)需要添加測(cè)試案例。在添加每個(gè)測(cè)試案例時(shí)，用已經(jīng)編寫(xiě)的工作流代碼來(lái)驗(yàn)證該測(cè)試案例是手動(dòng)的還是自動(dòng)的。如果是自動(dòng)測(cè)試案例，就執(zhí)行工作流代碼，確定在測(cè)試包中加入什么測(cè)試。工作流代碼還能連接自動(dòng)化腳本所在的美科利TestDirector服務(wù)器，并將默認(rèn)數(shù)據(jù)表格附加到測(cè)試實(shí)例中(test instance)。默認(rèn)數(shù)據(jù)表格確定某個(gè)特定測(cè)試需要執(zhí)行哪些條目，但是它不包含任何測(cè)試數(shù)據(jù)。

在腳本開(kāi)發(fā)的同時(shí)，文檔定義也完成了。在默認(rèn)數(shù)據(jù)表格附加到測(cè)試實(shí)驗(yàn)室中的測(cè)試實(shí)例上時(shí)，用戶(hù)可以打開(kāi)該文檔，為該測(cè)試實(shí)例添加所需的任何測(cè)試數(shù)據(jù)。這樣，該機(jī)構(gòu)可以增加既簡(jiǎn)單又靈活的框架――每個(gè)測(cè)試包將擁有多個(gè)測(cè)試腳本實(shí)例，但是這些實(shí)例可以單獨(dú)執(zhí)行，給出獨(dú)立的測(cè)試數(shù)據(jù)。當(dāng)測(cè)試人員增加數(shù)據(jù)包，并且添加測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，可以使用美科利TestDirector中的附件數(shù)據(jù)表格，輸入數(shù)據(jù)，保存文件，并再次上傳。如果增加的是手動(dòng)測(cè)試，以上這些步驟都不需要。

測(cè)試實(shí)例

測(cè)試包中其它所有的腳本都是測(cè)試案例的實(shí)例，可以分成四個(gè)部分：

初始化和預(yù)處理

由于是一家大型網(wǎng)站，業(yè)務(wù)遍及多個(gè)國(guó)家，需要通過(guò)一種方法來(lái)創(chuàng)建一套可以讓位于不同國(guó)家的小組成員都能使用的腳本。由于美科利QuickTest Professional中的內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù)檢查不允許聯(lián)結(jié)字符串的參數(shù)化，無(wú)法實(shí)現(xiàn)在多個(gè)方位展開(kāi)數(shù)據(jù)庫(kù)驗(yàn)證任務(wù)。但是，公司通過(guò)內(nèi)置的對(duì)象存儲(chǔ)庫(kù)(object repository)，在用戶(hù)端界面上實(shí)現(xiàn)了這個(gè)目標(biāo)。

小組通過(guò)在使用ADO的VBScript中創(chuàng)建定制等級(jí)，以及通過(guò)使用測(cè)試包中的用戶(hù)定義域來(lái)說(shuō)明聯(lián)結(jié)字符串的組件，很好地解決了這個(gè)問(wèn)題。小組將它們作為其全球變量，因?yàn)槊揽评鸔uickTest Professional不允許跨腳本實(shí)例的全球變量。這些用戶(hù)定義域是DatabaseChecks、DBDataSource、DBSchemaName、DBPassword和Country。

在執(zhí)行測(cè)試包中的測(cè)試實(shí)例時(shí)，首要任務(wù)就是調(diào)用內(nèi)部庫(kù)中的一個(gè)功能，將這些變量值讀入OTA中，并存儲(chǔ)在Dictionary object中。小組就可以給這些全球變量加上可讀的注釋(如：GlobalVariables.Item (“DatabaseChecks”))。該階段還有一個(gè)任務(wù)就是導(dǎo)出附件數(shù)據(jù)表格，當(dāng)該特定測(cè)試案例的測(cè)試數(shù)據(jù)在美科利QuickTest Professional中上傳并在測(cè)試中使用后，就可以導(dǎo)出數(shù)據(jù)表格。

測(cè)試腳本主體

在該測(cè)試階段執(zhí)行測(cè)試步驟。

后端數(shù)據(jù)庫(kù)驗(yàn)證

腳本的這個(gè)階段中，執(zhí)行所有需要的數(shù)據(jù)庫(kù)驗(yàn)證。在測(cè)試腳本初始化和預(yù)處理階段所讀入的記號(hào)和聯(lián)結(jié)字符串組件都在該階段被使用。此外，測(cè)試檢查DatabaseChecks定義域是否被設(shè)定成“TRUE”。如果是的話，就知道存在需要執(zhí)行的數(shù)據(jù)庫(kù)檢查任務(wù)。接著，測(cè)試可以例示數(shù)據(jù)庫(kù)等級(jí)，從數(shù)據(jù)表格中讀入預(yù)期的結(jié)果，并驗(yàn)證這些值。所有這些在數(shù)據(jù)庫(kù)等級(jí)中都被定義成可重復(fù)使用的方法。

整理和后期處理

測(cè)試已執(zhí)行完成，在對(duì)測(cè)試包中的下一個(gè)測(cè)試實(shí)例進(jìn)行測(cè)試之前，應(yīng)該對(duì)前一測(cè)試進(jìn)行整理。需要一種方法來(lái)巡視AUT中的適當(dāng)方位，因此小組在內(nèi)部庫(kù)中創(chuàng)建了一個(gè)功能，使用美科利TestDirector OTA API’s來(lái)觀測(cè)數(shù)據(jù)包中下一數(shù)據(jù)實(shí)例的名稱(chēng)。測(cè)試名稱(chēng)的前三位字母決定了測(cè)試人員應(yīng)該巡視的具體方位。如果下一個(gè)測(cè)試案例名稱(chēng)的前三位字母和當(dāng)前的不一樣，那就執(zhí)行代碼將AUT移入合適的方位。如果相同的話，無(wú)需進(jìn)行任何操縱，因?yàn)樵谟脩?hù)界面的正確方位上測(cè)試已經(jīng)展開(kāi)了。

總結(jié)：業(yè)務(wù)案例成果

篇2

集成電路(Ic)的靜電放電(ESD)強(qiáng)固性可藉多種測(cè)試來(lái)區(qū)分。最普遍的測(cè)試類(lèi)型是人體模型(HBM)和充電器件模型(CDM)。這兩種EsD測(cè)試類(lèi)型旨在揭示包含基本EsD控制的制造環(huán)境下，電路在EsD應(yīng)力下的存續(xù)情況如何。HBM是應(yīng)用最久的EsD測(cè)試，但工廠EsD控制專(zhuān)家普遍認(rèn)為，在現(xiàn)代高度自動(dòng)化的組裝運(yùn)營(yíng)中，CDM是更重要的ESD測(cè)試。CDM應(yīng)力的大小會(huì)隨著器件的尺寸而變化。有關(guān)CDM的“傳統(tǒng)智慧”更認(rèn)為不需要測(cè)試尺寸極小的集成電路，因?yàn)榉逯惦娏骺焖僮冃≈敝料?。我們?cè)诖饲暗奈耐性赋觯瑯O小器件的峰值電流并不像通常認(rèn)為的那樣快速變小直至消失。高速示波器測(cè)量顯示，即使脈沖寬度變得很窄，極小器件的峰值電流仍令人吃驚地保持高電平。過(guò)去，由于這些大峰值電流被忽略，因?yàn)槭褂昧藞?chǎng)致CDM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)所提倡的1GHz示波器，而場(chǎng)致CDM測(cè)試是最普及的CDM測(cè)試形式。

測(cè)試小器件時(shí)面臨的問(wèn)題

觀測(cè)到極小集成電路超出預(yù)料的峰值電流，對(duì)負(fù)責(zé)測(cè)試極小器件(尺寸僅為較小的個(gè)位數(shù)毫米等級(jí))的ESD測(cè)試工程師而言可不是什么好消息。圖1顯示了置于場(chǎng)致CDM測(cè)試裝置上的8球柵(ball)芯片級(jí)封裝。必須接觸每個(gè)被測(cè)引腳的探針(的尺寸)占到整個(gè)集成電路尺寸的不小比例。顯而易見(jiàn)，移動(dòng)被測(cè)器件并不需要太多的探針接觸：只是要求反復(fù)調(diào)整器件的位置。

在場(chǎng)致CDM測(cè)試期間、按慣例要使用真空來(lái)固持(hoId)被測(cè)器件(DUT)的位置。真空通常不能非常安全地固持極小的器件。此外，真空孔(的截面積)占到被測(cè)器件尺寸的不小比例，可能會(huì)影響器件應(yīng)力。當(dāng)真空孔尺寸超過(guò)被測(cè)器件面積的18％時(shí)，應(yīng)力的大小就開(kāi)始下降。圖2比較了置于真空孔與不置于真空孔上的器件在峰值電流或完整電荷(total charge)條件下測(cè)量得到的應(yīng)力大小。

在CDM測(cè)試期間使用真空來(lái)固持器件，由此帶來(lái)兩個(gè)問(wèn)題。首先，它不起作用，即便起作用，也會(huì)開(kāi)始影響測(cè)試結(jié)果。業(yè)界已經(jīng)嘗試使用兩種方法來(lái)改善小器件的可測(cè)試性――將小封裝貼在某類(lèi)夾具(holder)上，或以支撐結(jié)構(gòu)或模板來(lái)固持器件的位置。

使用夾具固持小器件

已經(jīng)在三種條件下使用6uSMD裸片來(lái)進(jìn)行cDM測(cè)試：僅器件本身、器件貼裝在14DIP轉(zhuǎn)換板上，以及在36LLP替代板(Surrogate Board)上，如圖3所示。圖4顯示了這三種條件下以500 v電壓采用8 GHz示波器所獲得的CDM測(cè)試波形。這些結(jié)果顯示，貼裝在電路板上會(huì)增加施加給集成電路的應(yīng)力。36LLP替代板上應(yīng)力的增加頗為適度，可以視為易于操作性與更可靠測(cè)試結(jié)果之間的最佳折衷。貼裝在14DIP轉(zhuǎn)換板上的應(yīng)力增加更為嚴(yán)重，大概不是一個(gè)可接受的折衷辦法。好消息是36LLP替代板實(shí)際上比測(cè)試期間會(huì)移動(dòng)的14DIP轉(zhuǎn)換板更易于操作。

支持模板

第二種處理小型集成電路的方法是使用支持模板。業(yè)界存在關(guān)于支持模塊這種方法的顧慮：由于小器件周?chē)薪殡姵?shù)較高的材料，介電的存會(huì)在多大程度上改變集成電路與場(chǎng)板(6ddplate)之間的電容?被測(cè)器件與場(chǎng)板之間的電容是被測(cè)器件上應(yīng)力大小的決定因素。圖s顯示了固定在CDM裝置中一個(gè)模板內(nèi)的6usMD封裝。此時(shí)被測(cè)器件位于絕緣體中精心加工的孔，而絕緣于cDM裝置使用真空的場(chǎng)板中。圖6顯示了6LLP封裝使用與不使用FR4支持模板時(shí)以8GHz示波器捕獲的波形。此圖顯示這模板在測(cè)試條件下僅為集成電路增加極小的應(yīng)力。

篇3

摘 要：谷氨酸棒桿菌作為棒桿菌中的模式生物，擁有多條完整的芳香化合物代謝途徑，全基因組測(cè)序的完成為在谷氨酸棒桿菌中進(jìn)行代謝調(diào)控研究提供了良好的生物信息學(xué)平臺(tái)；該菌包括基因敲除及互補(bǔ)在內(nèi)的遺傳操作系統(tǒng)非常成熟，是研究芳香化合物代謝調(diào)控機(jī)制的良好模型。該研究旨在利用棒桿菌等模式生物中的莽草酸合成及芳香化合物代謝相關(guān)元件進(jìn)行元件適配性研究，同時(shí)結(jié)合生物信息學(xué)、分子生物學(xué)及生物化學(xué)方法發(fā)掘其他微生物中這兩類(lèi)元件，并對(duì)元件進(jìn)行表征、改造及標(biāo)準(zhǔn)化并建立元件庫(kù)；選取高效能的功能元件拼接組裝為功能模塊，并在棒桿菌等底盤(pán)細(xì)胞中進(jìn)行檢測(cè)適配性，從而構(gòu)建出高效合成以莽草酸為代表性芳香化合物的人工細(xì)胞。到目前為止，研究工作完成了谷氨酸棒桿菌莽草酸合成途徑酶元件的鑒定，重點(diǎn)完成了谷棒DAHP合酶和分支酸異構(gòu)酶功能表征及元件間適配性關(guān)系，獲得大量潛在的莽草酸合成相關(guān)代謝元件；并對(duì)部分代謝元件進(jìn)行功能驗(yàn)證和表征；同時(shí)建立高效蛋白表達(dá)及酶活測(cè)定體系。鑒定了谷棒莽草酸途徑的7個(gè)酶以及分支酸異構(gòu)酶，完成了谷棒DAHP合酶、分支酸異構(gòu)酶、脫氫奎尼酸脫水酶以及莽草酸激酶功能表征，揭示了DAHP合酶和分支酸異構(gòu)酶相互作用機(jī)理和調(diào)控關(guān)系。獲得了3 549個(gè)莽草酸途徑相關(guān)基因序列，確定了516個(gè)合成目標(biāo)基因，完成了這些基因密碼子優(yōu)化和基因序列重新設(shè)計(jì)，選取了37個(gè)脫氫奎尼酸脫水酶基因人工合成，構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)元件庫(kù)，并表征了它們的酶促動(dòng)力學(xué)參數(shù)。構(gòu)建并驗(yàn)證了快速高通量的篩選―優(yōu)化―合成―表征莽草酸途徑元件庫(kù)的Pipeline。另外在調(diào)控元件庫(kù)構(gòu)建方面，構(gòu)建了包括RBS、Promoter、Terminator以及Insulator等4共226個(gè)元件的調(diào)控元件庫(kù)，為莽草酸通路模塊的優(yōu)化和精細(xì)調(diào)控的奠定了基礎(chǔ)。 模塊的組裝和優(yōu)化方面，構(gòu)建了基于RiboJ Insulator的基因表達(dá)定量調(diào)控模型，合成了莽草酸本地途徑酶元件和調(diào)控元件元件進(jìn)行模塊組裝，并在底盤(pán)細(xì)胞谷氨酸棒桿菌中實(shí)現(xiàn)了表達(dá)，對(duì)最優(yōu)配比進(jìn)行了初步篩選，將莽草酸產(chǎn)量提高了7倍。

關(guān)鍵詞：莽草酸 莽草酸途徑 谷氨酸棒桿菌 合成生物學(xué) 元件庫(kù)

Abstract： Corynebacterium glutamicum as a type strain has a number of complete metabolic pathways of aromatic compounds. The completion of whole genome sequencing provides a good bioinformatic platform for metabolic and regulatory study of cells. Besides， the genetic manipulation systems （including knockout and complementary systems） are very mature， which makes this strain a perfect model to study the metabolic and regulatory mechanisms of aromatic compounds.With techniques of bioinformatics， molecular biology and biochemistry， more devices with similar functions are explored from all other microorganisms. And device libraries are subsequently established after characterization， modification and standardization of these devices. High-performance functional devices are selected to assemble modules which are then transferred into chassis cells for suitability test. After optimization of the suitability， artificially synthesized cell can provide a much more efficient synthesis of shikimic acid -a representation of aromatic compounds- than the wild type strain do. So for， all enzymatic devices involved in shikimic acid synthetic pathway have been identified， and a lot of potential function devices that may related to shikimic acid synthesis have been achieved. In total， 3549 gene sequences that are relative to shikimate pathway are identified and 516 of them are verified to be target genes for shikimic acid synthesis. After codon optimization and sequence redesign， 37 dehydrogenation quinic acid dehydratase genes are selected to be synthesis chemically， and these synthetic devices are used for characterization of their enzymatic kinetic parameters. By then， a highly efficient pipeline for construction of device library with a high-throughput “Screening―Optimization―Synthesis―Characterization” process is built. In terms of regulatory devices， a library is constructed with 226 regulatory devices， including RBS， Promoter， Terminator and Insulator.， which provide a steady foundation for optimization and accurate regulation of shikimic acid pathway modules. Based on a quantitative model named RiboJ Insulator for regulation of gene expression， the local enzymes in shikimic acid pathway are assembled with regulatory devices from the previous library in chassis cells Corynebacterium glutamicum. And the production of shikimic acid is increased by 7 times comparing with the wild type ones.

Key Words： Shikimic acid； Shikimic acid pathway； Corynebacterium glutamicum； Synthetic biology； Device library

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篇4

【關(guān)鍵詞】配網(wǎng)自動(dòng)化 RTDS集成測(cè)試

隨著電力系統(tǒng)的不斷發(fā)展，我國(guó)電力建設(shè)經(jīng)歷了大輸電的投資高峰期，對(duì)于220kV及以上電壓等級(jí)的輸電網(wǎng)進(jìn)行了全面的提升和完善，目前輸電投資已經(jīng)逐步回落，在GDP增速和用電彈性雙重下滑的大背景下，短期無(wú)法出現(xiàn)較大的需求增量。而隨著城鎮(zhèn)化建設(shè)的加速，未來(lái)電力系統(tǒng)的發(fā)展將進(jìn)入結(jié)構(gòu)性建設(shè)階段，110kV及以下的配網(wǎng)將成為新的投資重點(diǎn)，配電自動(dòng)化系統(tǒng)的建設(shè)是配網(wǎng)發(fā)展過(guò)程中的重要內(nèi)容之一，而配電網(wǎng)的測(cè)試環(huán)節(jié)目前還處于摸索階段。

配電自動(dòng)化（DA）是一項(xiàng)集計(jì)算機(jī)技術(shù)、數(shù)據(jù)傳輸、控制技術(shù)、現(xiàn)代化設(shè)備及管理于一體的綜合信息管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)配電系統(tǒng)監(jiān)視＼控制的自動(dòng)化管理，其目的是提高電網(wǎng)供電可靠性，改進(jìn)電能質(zhì)量，向用戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)，降低運(yùn)行費(fèi)用，減輕運(yùn)行人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。

本文通過(guò)介紹國(guó)內(nèi)外配網(wǎng)自動(dòng)化發(fā)展概況，進(jìn)一步通過(guò)探討國(guó)內(nèi)外配網(wǎng)實(shí)驗(yàn)仿真平臺(tái)建設(shè)的狀況，提出基于RTDS的配網(wǎng)集成測(cè)試平臺(tái)建設(shè)的方案。

1 國(guó)內(nèi)外配網(wǎng)自動(dòng)化技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀

1.1 國(guó)外配網(wǎng)自動(dòng)化發(fā)展現(xiàn)狀

國(guó)外自20世紀(jì)70年代起進(jìn)行了配電自動(dòng)化技術(shù)的研究與應(yīng)用，歸納起來(lái)，大致可以分為三個(gè)階段。第一階段：基于自動(dòng)化開(kāi)關(guān)設(shè)備相互配合的饋線自動(dòng)化系統(tǒng)，其主要設(shè)備為重合器和分段器，不需要建設(shè)通訊網(wǎng)站和配電主站，系統(tǒng)在故障時(shí)通過(guò)自動(dòng)化開(kāi)關(guān)設(shè)備相互配合實(shí)現(xiàn)故障隔離和健全段恢復(fù)供電。第二階段：隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和數(shù)據(jù)通訊技術(shù)的發(fā)展，一種基于饋線監(jiān)控終端、通訊網(wǎng)絡(luò)和配電主站的實(shí)時(shí)應(yīng)用系統(tǒng)產(chǎn)生，在配網(wǎng)正常運(yùn)行時(shí)，系統(tǒng)能起到監(jiān)視配電網(wǎng)運(yùn)行狀況和遙控改變運(yùn)行方式的作用，故障時(shí)能及時(shí)察覺(jué)，并由調(diào)度通過(guò)遙控開(kāi)關(guān)隔離故障區(qū)段和恢復(fù)健全段供電。第三階段：隨著負(fù)荷密集區(qū)配電網(wǎng)規(guī)模和網(wǎng)絡(luò)化程度的快速發(fā)展，僅憑借調(diào)度員的經(jīng)驗(yàn)調(diào)度配電網(wǎng)越來(lái)越困難；同時(shí)，為加快配電網(wǎng)故障的判斷和搶修處理，進(jìn)一步提高供電可靠性和客戶(hù)滿(mǎn)意度，一種集實(shí)時(shí)應(yīng)用和生產(chǎn)管理于一體的配電網(wǎng)管理系統(tǒng)逐漸占據(jù)主導(dǎo)地位，它覆蓋了整個(gè)配電網(wǎng)調(diào)度、運(yùn)行、生產(chǎn)的全過(guò)程，還支持客戶(hù)服務(wù)。系統(tǒng)結(jié)合了配電網(wǎng)自動(dòng)化系統(tǒng)、配電網(wǎng)GIS應(yīng)用系統(tǒng)、配電生產(chǎn)管理系統(tǒng)等，且與營(yíng)銷(xiāo)管理系統(tǒng)相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)配電合用電的綜合應(yīng)用功能。

以上三個(gè)階段的配網(wǎng)自動(dòng)化系統(tǒng)目前在國(guó)外依然存在。其中，日本、韓國(guó)側(cè)重全面的饋線自動(dòng)化，而歐美的配網(wǎng)自動(dòng)化除了在一些重點(diǎn)區(qū)域?qū)崿F(xiàn)饋線自動(dòng)化之外，在配電主站具有較多的高級(jí)應(yīng)用和管理功能。

1.2 配網(wǎng)自動(dòng)化技術(shù)在我國(guó)的發(fā)展現(xiàn)狀

我國(guó)配電網(wǎng)自動(dòng)化技術(shù)研究起步于上世紀(jì)90年代，期間進(jìn)行了一些試點(diǎn)性項(xiàng)目：如1996年在上海金騰工業(yè)區(qū)建成基于全電纜線路的饋線自動(dòng)化系統(tǒng)，是國(guó)內(nèi)第一套投入實(shí)際運(yùn)行的配電網(wǎng)自動(dòng)化系統(tǒng)。2003年杭州、寧波配網(wǎng)自動(dòng)化項(xiàng)目對(duì)我國(guó)配電網(wǎng)建設(shè)具有良好的示范意義。但過(guò)去幾年來(lái)，配電自動(dòng)化在我國(guó)電網(wǎng)建設(shè)中仍然處于比較薄弱環(huán)節(jié)，配電網(wǎng)供電可靠性與發(fā)達(dá)地區(qū)先進(jìn)水平存在較大的差距。配網(wǎng)自動(dòng)化建設(shè)在大多數(shù)城市僅僅局限于試點(diǎn)，覆蓋率約為試點(diǎn)城市的1/5-1/4，甚至更少。而在國(guó)外如日本，配電自動(dòng)化的覆蓋率高達(dá)80%的水平。因此在配電自動(dòng)化方面，我國(guó)有廣闊的提升空間和發(fā)展前景，我們要借鑒國(guó)外的成功經(jīng)驗(yàn)，根據(jù)我國(guó)配網(wǎng)的實(shí)際情況，制定有效的配電自動(dòng)化制度規(guī)范，不斷摸索，不斷提高，不斷發(fā)展，最終實(shí)現(xiàn)配電自動(dòng)化的建設(shè)目標(biāo)。

2 國(guó)內(nèi)外配網(wǎng)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)建設(shè)現(xiàn)狀

2.1 國(guó)內(nèi)配電網(wǎng)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)建設(shè)現(xiàn)狀

國(guó)內(nèi)配電網(wǎng)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的建設(shè)主要集中在配電設(shè)備的檢測(cè)階段，典型結(jié)構(gòu)如北京電科院配網(wǎng)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，其主要研究范圍包括配電終端性能功能檢測(cè)、EMC檢測(cè)、電能質(zhì)量檢測(cè)等。由于其以單臺(tái)配電終端檢測(cè)和配電自動(dòng)化演示為主，缺少整體系統(tǒng)功能性試驗(yàn)，無(wú)法對(duì)各種典型網(wǎng)架結(jié)構(gòu)進(jìn)行建模和檢測(cè)，因此相類(lèi)似的配網(wǎng)實(shí)驗(yàn)室未形成針對(duì)配電自動(dòng)化系統(tǒng)的完全檢測(cè)能力。而以西安電科院配網(wǎng)實(shí)驗(yàn)室為代表的平臺(tái)建設(shè)其主要實(shí)現(xiàn)功能包括配電自動(dòng)化主站系統(tǒng)模擬、配電自動(dòng)化終端及檢測(cè)設(shè)備展示、配電自動(dòng)化動(dòng)作過(guò)程演示、采用RTDS仿真模擬配網(wǎng)系統(tǒng)等。但是該實(shí)驗(yàn)室缺少針對(duì)通信系統(tǒng)、電源系統(tǒng)等的檢測(cè)，以及針對(duì)設(shè)備性能高低溫、EMC等試驗(yàn)，未能將靜模試驗(yàn)與動(dòng)模試驗(yàn)相結(jié)合，仍未形成完全的配電自動(dòng)化檢測(cè)能力。

配網(wǎng)自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室主體結(jié)構(gòu)包括10KVA自動(dòng)調(diào)壓器，PT、CT、變換器、數(shù)據(jù)采集卡和數(shù)模轉(zhuǎn)換卡系統(tǒng)應(yīng)用軟件等。實(shí)驗(yàn)室可以實(shí)現(xiàn)的功能包括故障定位識(shí)別、饋線重構(gòu)和無(wú)功補(bǔ)償/電壓控制三大功能。系統(tǒng)構(gòu)建典型的三相配電系統(tǒng)單線圖如圖1所示。

2.2 國(guó)外配電自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室建設(shè)狀況

對(duì)應(yīng)著配網(wǎng)自動(dòng)化的發(fā)展與研究，國(guó)外配網(wǎng)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)建設(shè)開(kāi)展得也比較早。美國(guó)德雷克賽爾大學(xué)可重構(gòu)配電自動(dòng)化與控制實(shí)驗(yàn)室建于21世紀(jì)初，其整體結(jié)構(gòu)與裝置如圖2所示，由4個(gè)完全相同的配電站組成，電源可提供三相交流208V和120V直流電壓，并帶有三相自耦變壓器（變比為1：1），自耦變壓器是起到隔離作用，以防止電力和測(cè)量設(shè)備的涌入電流，并設(shè)置了一個(gè)30A的三相斷路器。ZIP負(fù)荷由多種負(fù)載組成，其包括獨(dú)立的恒值阻抗，恒定電流和恒定功率負(fù)載。它們可以通過(guò)平衡/非平衡的方式進(jìn)行連接。數(shù)據(jù)采集卡（DAQ）安裝在計(jì)算機(jī)上用來(lái)采集相關(guān)數(shù)據(jù)，獲取到的數(shù)據(jù)將通過(guò)以太網(wǎng)在遠(yuǎn)程測(cè)控終端系統(tǒng)（RTU）和主站之間進(jìn)行傳輸。

該實(shí)驗(yàn)室除能進(jìn)行常規(guī)的配網(wǎng)實(shí)驗(yàn)外，還可以實(shí)現(xiàn)多相輻射網(wǎng)潮流實(shí)驗(yàn)以及網(wǎng)絡(luò)重構(gòu)實(shí)驗(yàn)等，具有比較全面的配網(wǎng)設(shè)備與系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)的功能。

芬蘭坦佩雷理工大學(xué)的現(xiàn)代化配電自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室建于上世紀(jì)末，由主變電站和控制中心兩層主體結(jié)構(gòu)構(gòu)成，實(shí)現(xiàn)的主要功能有故障模擬、定位與雷暴預(yù)警等。

日本的智能配電網(wǎng)實(shí)驗(yàn)室建于2011年，主要用于現(xiàn)代住宅配電系統(tǒng)研究。該實(shí)驗(yàn)室包括一個(gè)連接到10kW的功率放大器上。該功率放大器又連接到硬件在環(huán)（power-HIL）中的eMEGAsim電力系統(tǒng)仿真器。如圖3所示。住宅中配有各種家用電器和其它設(shè)備。這些設(shè)備包括燃料電池，光伏系統(tǒng)和其它正在考慮的將用在未來(lái)住房中的設(shè)備。這些住宅將會(huì)被整合成一個(gè)現(xiàn)代化的微電網(wǎng)。微電網(wǎng)每一用戶(hù)可以向電網(wǎng)中反送電能。

微電網(wǎng)實(shí)驗(yàn)室將能夠分析電網(wǎng)和住宅設(shè)備之間的相互作用，通過(guò)把住戶(hù)電流注入到由eMEGAsim實(shí)時(shí)仿真器所模擬的饋線回路中去，反過(guò)來(lái)模擬饋線回路又可以通過(guò)電力硬件在環(huán)（power-HIL）連接將饋線電壓返送給住戶(hù)。

3 配網(wǎng)自動(dòng)化系統(tǒng)集成測(cè)試方案研究

3.1 配網(wǎng)自動(dòng)化系統(tǒng)測(cè)試方案基礎(chǔ)

綜上所述，配網(wǎng)自動(dòng)化建設(shè)無(wú)論在工程實(shí)踐當(dāng)中，還是在實(shí)驗(yàn)環(huán)境下對(duì)配網(wǎng)自動(dòng)化研究都在積極地開(kāi)展與進(jìn)行中。盡管如此，各配網(wǎng)實(shí)驗(yàn)室基本基于各終端設(shè)備或配網(wǎng)系統(tǒng)的某些功能而進(jìn)行的平臺(tái)建設(shè)，缺乏配網(wǎng)全體的觀念和系統(tǒng)測(cè)試的思想。而依托最新的RTDS實(shí)時(shí)系統(tǒng)作為仿真平臺(tái)，結(jié)合實(shí)際配電自動(dòng)化的主站、通信、測(cè)控終端，建設(shè)成一套模式靈活，技術(shù)先進(jìn)的配電自動(dòng)化測(cè)試仿真實(shí)驗(yàn)室，可以使其處于國(guó)內(nèi)國(guó)際領(lǐng)先水平。實(shí)驗(yàn)室的建設(shè)基本目標(biāo)如下：

（1）基于RTDS的配網(wǎng)仿真系統(tǒng)可以模擬任意規(guī)模、任意復(fù)雜程度的配網(wǎng)架構(gòu)，避免了傳統(tǒng)物理動(dòng)模規(guī)模小，運(yùn)行方式不夠靈活的缺點(diǎn)。

（2）本實(shí)驗(yàn)室的架構(gòu)可以針對(duì)各種不同廠家、不同類(lèi)型的配網(wǎng)終端進(jìn)行入網(wǎng)測(cè)試，并對(duì)相關(guān)裝置接入實(shí)際配網(wǎng)后的特性進(jìn)行仿真測(cè)試，彌補(bǔ)現(xiàn)有配網(wǎng)自動(dòng)化終端只能進(jìn)行單獨(dú)性能測(cè)試的不足。

（3）基于本實(shí)驗(yàn)室可以在真實(shí)的主站系統(tǒng)進(jìn)行高級(jí)功能的開(kāi)發(fā)，并將該高級(jí)功能直接應(yīng)用于真實(shí)配網(wǎng)環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，保證了該平臺(tái)具有較高水平的研究性。

3.2 方案整體結(jié)構(gòu)

配網(wǎng)集成測(cè)試平臺(tái)以主站系統(tǒng)和數(shù)字仿真系統(tǒng)為主體，其中主站系統(tǒng)是配電自動(dòng)化系統(tǒng)的控制中心和監(jiān)測(cè)中心，而數(shù)字仿真系統(tǒng)主要進(jìn)行模擬建模和仿真測(cè)試，兩大系統(tǒng)通過(guò)電壓電流、開(kāi)入開(kāi)出等信號(hào)量進(jìn)行相互交互，從而實(shí)現(xiàn)了兩大系統(tǒng)的無(wú)縫銜接，實(shí)現(xiàn)多種功能、多種用途、多種形式的配電自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)任務(wù)。平臺(tái)的結(jié)構(gòu)圖如圖4所示。

系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的具體功能主要包括：

（1）可利用計(jì)算機(jī)RSCAD軟件搭建配網(wǎng)系統(tǒng)架構(gòu)，模擬各種復(fù)雜的運(yùn)行工況，并通過(guò)二次電壓電流實(shí)時(shí)反映出系統(tǒng)的狀態(tài)，能夠模擬配網(wǎng)多種故障狀況，能夠幫助規(guī)劃配網(wǎng)結(jié)構(gòu)、了解配網(wǎng)潮流走向等等。

（2）系統(tǒng)可通過(guò)功率放大器實(shí)時(shí)輸出二次電壓電流，可以對(duì)FTU、DTU等配網(wǎng)自動(dòng)化設(shè)備終端進(jìn)行動(dòng)態(tài)檢測(cè)，驗(yàn)證其現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行過(guò)程中的性能和質(zhì)量。

（3）系統(tǒng)可模擬配置保護(hù)系統(tǒng)，真實(shí)反映配網(wǎng)故障狀態(tài)下保護(hù)裝置的動(dòng)作情況，研究配電自動(dòng)化與保護(hù)之間的聯(lián)系和配合。

4 結(jié)論

目前國(guó)內(nèi)外配電自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室數(shù)量較少、功能單一、性能遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能適應(yīng)目前配電自動(dòng)化的發(fā)展水平，在深入調(diào)研國(guó)內(nèi)外配電自動(dòng)化應(yīng)用現(xiàn)狀及配電自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室建設(shè)水平基礎(chǔ)上，提出了以RTDS實(shí)時(shí)仿真為基礎(chǔ)、結(jié)合實(shí)際配電自動(dòng)化的主站、通信、終端，建設(shè)成一套模式靈活，技術(shù)先進(jìn)的配電自動(dòng)化測(cè)試仿真實(shí)驗(yàn)室的建設(shè)方案。該系統(tǒng)主要優(yōu)點(diǎn)包括：

（1）基于RTDS的配網(wǎng)仿真系統(tǒng)可以模擬任意規(guī)模、任意復(fù)雜程度的配網(wǎng)架構(gòu)，避免了傳統(tǒng)物理動(dòng)模規(guī)模小，運(yùn)行方式不夠靈活的缺點(diǎn)。

（2）本實(shí)驗(yàn)室的架構(gòu)可以針對(duì)各種不同廠家、不同類(lèi)型的配網(wǎng)終端進(jìn)行入網(wǎng)測(cè)試，并對(duì)相關(guān)裝置接入實(shí)際配網(wǎng)后的特性進(jìn)行仿真測(cè)試，彌補(bǔ)現(xiàn)有配網(wǎng)自動(dòng)化終端只能進(jìn)行單獨(dú)性能測(cè)試的不足。

（3）基于本實(shí)驗(yàn)室可以在真實(shí)的主站系統(tǒng)進(jìn)行高級(jí)功能的開(kāi)發(fā)，并將該高級(jí)功能直接應(yīng)用于真實(shí)配網(wǎng)環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，保證了該平臺(tái)具有較高水平的研究性等。因此，基于RTDS系統(tǒng)的配電網(wǎng)平臺(tái)建設(shè)對(duì)于配電網(wǎng)系統(tǒng)以及配網(wǎng)設(shè)備各功能以及各種通訊方式等方面研究都有重要意義。

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作者簡(jiǎn)介

陸?。?986-），男，上海市人。碩士研究生學(xué)歷?，F(xiàn)在供職于國(guó)網(wǎng)上海市電力公司電力科學(xué)研究院。研究方向?yàn)榕潆娮詣?dòng)化技術(shù)。

陳冉（1983-），男，江蘇省南京市人。博士研究生學(xué)歷。現(xiàn)在供職于上海電力學(xué)院電氣工程學(xué)院。研究方向?yàn)榕潆娮詣?dòng)化、配電網(wǎng)規(guī)劃等。

作者單位

篇5

關(guān)鍵詞：數(shù)字；集成電路；構(gòu)成；系統(tǒng)；測(cè)試技術(shù)

高新技術(shù)的快速發(fā)展，帶來(lái)的是產(chǎn)品質(zhì)量的提升和成本的降低。對(duì)于現(xiàn)階段的工作而言，測(cè)試的具體流程、測(cè)試的具體方法，都對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量和成本產(chǎn)生了較大的影響。數(shù)字集成電路系統(tǒng)作為現(xiàn)階段的主流系統(tǒng)，其基本的構(gòu)成涉及功能的實(shí)現(xiàn)，其測(cè)試技術(shù)的進(jìn)步涉及產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率。為此，在分析數(shù)字集成電路系統(tǒng)的過(guò)程中，需要在不同的模塊，投入相應(yīng)的時(shí)間和精力，完成系統(tǒng)的階段性進(jìn)步。在此，本文主要對(duì)數(shù)字集成電路系統(tǒng)的基本構(gòu)成與測(cè)試技術(shù)展開(kāi)討論。

1數(shù)字集成電路系統(tǒng)基本構(gòu)成

數(shù)字集成電路系統(tǒng)在目前的應(yīng)用是比較廣泛的，其在很多方面都具有較大的積極作用。隨著時(shí)間的推移，現(xiàn)有的數(shù)字集成電路系統(tǒng)，集合了過(guò)去的很多優(yōu)點(diǎn)，在多方面均表現(xiàn)出了較大的積極作用。從構(gòu)成來(lái)看，數(shù)字集成電路系統(tǒng)主要是將元器件以及連線，有效地集成于同一個(gè)半導(dǎo)體的芯片之上，從而完成的數(shù)字邏輯電路或者系統(tǒng)。在劃分?jǐn)?shù)字集成電路系統(tǒng)的過(guò)程中，可根據(jù)數(shù)字集成電路中，包含的具體門(mén)電路、具體的器件數(shù)量，劃分為小規(guī)模的集成電路、中規(guī)模的集成電路、大規(guī)模的集成電路等。

數(shù)字集成電路系統(tǒng)在組成方面主要包括2個(gè)內(nèi)容，分別為組合邏輯和寄存器（觸發(fā)器）。組合邏輯經(jīng)過(guò)分析后，發(fā)現(xiàn)其是由基本門(mén)組成的一系列函數(shù)，在輸出的工作中，僅僅與當(dāng)前的輸入具有密切的關(guān)聯(lián)。倘若表現(xiàn)為組合邏輯，那么在運(yùn)行的過(guò)程中，就只能完成邏輯的運(yùn)算。在時(shí)序電路方面，除了包含基本門(mén)之外，還包含存儲(chǔ)元件用例，保存過(guò)去的信息。因此，時(shí)序電路的穩(wěn)態(tài)輸出，不僅僅與當(dāng)前的輸入具有密切的關(guān)系，同時(shí)還與過(guò)去的輸入所形成的狀態(tài)具有比較密切的關(guān)系。在時(shí)序電路方面，其在有效完成邏輯運(yùn)算的同時(shí)，還可以將具體的處理結(jié)果進(jìn)行暫時(shí)的存儲(chǔ)，以此對(duì)下一次的運(yùn)算提供便利。

2數(shù)字集成電路系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)

對(duì)于數(shù)字集成電路系統(tǒng)而言，其在目前的發(fā)展中，除了基本構(gòu)成不斷豐富外，測(cè)試技術(shù)也在很大程度上取得了提升。目前，數(shù)字集成電路系統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，不僅獲得了較多的數(shù)據(jù)和資料，同時(shí)在多方面實(shí)現(xiàn)了數(shù)字系統(tǒng)本身的進(jìn)步。

2.1功能測(cè)試

在數(shù)字集成電路系統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)當(dāng)中，功能測(cè)試是比較重要的組成部分，其在很多方面都具有較大的積極作用。從客觀的角度來(lái)分析，功能測(cè)試的實(shí)施，其目的在于驗(yàn)證電路的設(shè)計(jì)和使用是否完成了預(yù)期的效果。功能測(cè)試在開(kāi)展時(shí)，其基本過(guò)程如下：（1）從輸入端施加若干的激勵(lì)信號(hào)，也就是常說(shuō)的測(cè)試圖形。（2）在操作當(dāng)中，需要按照電路規(guī)定的具體頻率，有效地施加到被測(cè)試的器件當(dāng)中，這一操作需要仔細(xì)進(jìn)行，避免出現(xiàn)任何形式上的紕漏。（3）要根據(jù)兩者的相同情況、差異情況等，對(duì)具體的數(shù)據(jù)和信息進(jìn)行分析，以此來(lái)更好地判定電路功能是否達(dá)到了正常的狀態(tài)。

測(cè)試圖形在應(yīng)用過(guò)程中是檢驗(yàn)器件功能的重要途徑，獲得了業(yè)內(nèi)的高度認(rèn)可。從理論上來(lái)分析，一個(gè)比較好的測(cè)試圖形，本身所具有的特點(diǎn)是非常突出的：（1）測(cè)試圖形必須具有較高的故障覆蓋率，這樣才能更好地測(cè)試不同類(lèi)型的故障。（2）測(cè)試圖形必須具有較短的測(cè)試時(shí)間。以往的測(cè)試花費(fèi)大量的精力和時(shí)間，得到的結(jié)果卻不精確。因此，針對(duì)測(cè)試圖形的測(cè)試時(shí)間，要求是比較嚴(yán)格的。（3）測(cè)試圖形必須針對(duì)被測(cè)器件的故障、工藝缺陷進(jìn)行檢測(cè)，提高被測(cè)器件的功能測(cè)試準(zhǔn)確度。

由此可見(jiàn)，在功能測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試電路的具體質(zhì)量，會(huì)與測(cè)試矢量的精度具有比較密切的關(guān)系。例如，組合電路測(cè)試生成算法，其主要包括窮舉法、代數(shù)法等等。可根據(jù)實(shí)際的需求，選擇合理的方法來(lái)完成。

2.2直流參數(shù)的測(cè)試

數(shù)字集成電路系統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)還能夠針對(duì)較多的重要指標(biāo)，完成相應(yīng)的測(cè)試工作。直流參數(shù)的測(cè)試是目前比較關(guān)注的問(wèn)題。從測(cè)試技術(shù)的角度來(lái)分析，直流測(cè)試是用來(lái)確定器件點(diǎn)參數(shù)的穩(wěn)態(tài)，確保器件可以更加穩(wěn)定的運(yùn)行。從方法上來(lái)分析，直流參數(shù)的測(cè)試方法比較多樣化，目前常用的包括接觸測(cè)試、漏電電流測(cè)試、轉(zhuǎn)換電平測(cè)試等。

接觸測(cè)試在應(yīng)用過(guò)程中，雖然操作比較簡(jiǎn)單，但需要在細(xì)節(jié)上有所把握。例如，該測(cè)試在具體的應(yīng)用當(dāng)中，需要充分的保證測(cè)試的接口與器件可以正常的連接。同時(shí)，在測(cè)量輸入和輸出方面，應(yīng)根據(jù)管腳保護(hù)二極管的具體壓降情況，觀察連接性是否達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)的要求。如果要求未滿(mǎn)足，則要重新連接。

漏電測(cè)試是一種比較特殊的測(cè)試方法，其在應(yīng)用過(guò)程中表現(xiàn)出了很大的優(yōu)異性。在實(shí)際的工作當(dāng)中，漏電流的出現(xiàn)，主要是由于器件內(nèi)部和輸入管腳之間出現(xiàn)了問(wèn)題，多數(shù)情況下，二者的絕緣氧化膜在生產(chǎn)過(guò)程中，表現(xiàn)為特別薄的狀態(tài)，進(jìn)而引起了類(lèi)似短路的情況。最終，導(dǎo)致電流通過(guò)，形成漏電流。漏電測(cè)試的方法會(huì)針對(duì)該項(xiàng)參數(shù)的具體測(cè)試，以此來(lái)更好地對(duì)器件輸入、輸出的負(fù)載特性進(jìn)行較好的分析，實(shí)現(xiàn)從源頭測(cè)試。

轉(zhuǎn)換電平測(cè)試在目前的應(yīng)用中，隸屬于針對(duì)性較強(qiáng)的一類(lèi)測(cè)試方法。轉(zhuǎn)換電平測(cè)試在應(yīng)用當(dāng)中，會(huì)通過(guò)反復(fù)的運(yùn)行功能測(cè)試的方法，針對(duì)導(dǎo)致功能測(cè)試失效的臨界電壓值進(jìn)行測(cè)試和分析，確定轉(zhuǎn)換電平。從技術(shù)上來(lái)分析，轉(zhuǎn)換電平測(cè)試的應(yīng)用，在很多方面都充分反映了器件抗噪聲的能力水平，是一項(xiàng)非常重要的測(cè)試技術(shù)。

2.3交流參數(shù)的測(cè)試

數(shù)字集成電路系統(tǒng)在現(xiàn)階段的研究中，獲得了很多的積極成果，將成果廣泛應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試技術(shù)的較大提升。交流參數(shù)的測(cè)試，是數(shù)字集成電路系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)的重點(diǎn)表現(xiàn)，其在很多方面都是非常重要的一項(xiàng)指標(biāo)。

從具體的測(cè)試層面來(lái)分析，交流參數(shù)的測(cè)試工作主要是測(cè)量器件晶體管轉(zhuǎn)換狀態(tài)時(shí)所表現(xiàn)出的時(shí)序關(guān)系。執(zhí)行該項(xiàng)測(cè)試的目的在于，確保器件能夠在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)發(fā)生正常的狀態(tài)轉(zhuǎn)換。操作過(guò)程中，比較常用的交流測(cè)試方法、包括傳輸延時(shí)測(cè)試的方法、建立和保持時(shí)間測(cè)試的方法等。

3測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用

數(shù)字集成電路系統(tǒng)在基本構(gòu)成獲得不斷的深化后，測(cè)試技術(shù)也獲得了較大的提升。二者互相輔助造成了良性循環(huán)，并且創(chuàng)造出了較大的價(jià)值。相對(duì)而言，測(cè)試技術(shù)在獲得了深化后，應(yīng)在具體的應(yīng)用上作出足夠的努力，僅僅在理論上進(jìn)行研究，并不能創(chuàng)造太多的價(jià)值。我國(guó)目前對(duì)技術(shù)的研究是非常重視的，很多工作都達(dá)到了較為重要的階段。數(shù)字集成電路系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)作為影響多領(lǐng)域發(fā)展的重點(diǎn)技術(shù)，必須得到廣泛的應(yīng)用。

例如，現(xiàn)在使用的泰瑞達(dá)（Teradyne）公司生產(chǎn)的J750，HILEVEL生產(chǎn)的ETS770。這些都是非常先進(jìn)的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。其中泰瑞達(dá)可為半導(dǎo)體電路提供測(cè)試解決方案，它擁有模擬、混合信號(hào)、存儲(chǔ)器及VLSI器件測(cè)試所有領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備。并且該機(jī)器是低成本高性能并行測(cè)試機(jī)，采用windows操作系統(tǒng)，人機(jī)界面友好、簡(jiǎn)單；基于板卡的硬件架構(gòu)，維護(hù)性好；配上MSO，基本能滿(mǎn)足SoC的測(cè)試需求，有著較高的測(cè)試性?xún)r(jià)比。而HILEVEL生產(chǎn)的ETS770的優(yōu)點(diǎn)是器件可以通過(guò)測(cè)試小板很方便地與測(cè)試系統(tǒng)相連，并且可以實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片進(jìn)行快速的邏輯功能驗(yàn)證，測(cè)試編程界面全為窗口式，快速簡(jiǎn)捷，易于掌握。總之，每個(gè)測(cè)試系統(tǒng)都有各自的硬件配置和程序開(kāi)發(fā)環(huán)境，需要測(cè)試工程師根據(jù)每個(gè)測(cè)試器件的邏輯結(jié)構(gòu)和電特性制定合理的測(cè)試流程，最大限度地發(fā)揮每個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的資源優(yōu)勢(shì)。

由此可見(jiàn)，數(shù)字集成電路系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)在應(yīng)用層面，表現(xiàn)出了較大的積極作用，總體上創(chuàng)造出的價(jià)值是非常值得肯定的。今后，應(yīng)該在多方面針對(duì)數(shù)字集成電路系統(tǒng)的基本構(gòu)成，針對(duì)測(cè)試技術(shù)，開(kāi)展深入的研究。一方面要不斷地健全數(shù)字集成電路系統(tǒng)的基本組成，豐富內(nèi)容；另7y面需健全測(cè)試技術(shù)體系，從多個(gè)方面來(lái)提高技術(shù)的功能性和可操作性。

篇6

[關(guān)鍵詞]機(jī)電一體化；介質(zhì)程序；測(cè)試方法

中圖分類(lèi)號(hào)：TP31 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1009-914X（2014）23-020-01

現(xiàn)在國(guó)家對(duì)于機(jī)電一體化很重視，因?yàn)闄C(jī)電一體化關(guān)乎國(guó)家的硬實(shí)力，關(guān)乎到我國(guó)工業(yè)的發(fā)展，只有機(jī)電一體化平穩(wěn)、健康、快速發(fā)展，我們國(guó)家的明天才會(huì)有保證，我們國(guó)家才能長(zhǎng)治久安，維護(hù)好本國(guó)。本文試著介紹一下嵌入式程序測(cè)試技術(shù)。

1.嵌入式程序測(cè)試基本概念的簡(jiǎn)要敘述

嵌入式程序設(shè)計(jì)已經(jīng)成為工業(yè)現(xiàn)代化、智能化的必經(jīng)之路，嵌入式程序測(cè)試產(chǎn)品已經(jīng)深入到各行各業(yè)。嵌入式程序測(cè)試系統(tǒng)的專(zhuān)用程度較高，系統(tǒng)的整體繼承性相對(duì)較小，為了保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性，軟件的測(cè)試成為嵌入式開(kāi)發(fā)的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。由于嵌入式程序自身的特點(diǎn)，傳統(tǒng)的軟件測(cè)試?yán)碚摬荒苤苯佑糜谇度胧匠绦虻臏y(cè)試，因此，研究嵌入式軟件的測(cè)試有重要意義。嵌入式程序的設(shè)計(jì)是以一定的方法為基礎(chǔ)的。面對(duì)越來(lái)越復(fù)雜的程序開(kāi)發(fā)任務(wù)，人們提出了各種程序設(shè)計(jì)的模型。從用戶(hù)需求和系統(tǒng)要實(shí)現(xiàn)的任務(wù)功能出發(fā)，把大型的程序劃分為相對(duì)較小的模塊。模塊化設(shè)計(jì)的核心是模塊的獨(dú)立性，主要包括功能獨(dú)立性和結(jié)構(gòu)獨(dú)立性，這使得程序開(kāi)發(fā)的分工易于實(shí)現(xiàn)。

2.嵌入式程序

嵌入式程序開(kāi)發(fā)有其自身的特點(diǎn)。一般先進(jìn)行硬件部分的開(kāi)發(fā)，主要包括形成裸機(jī)平臺(tái)，根據(jù)需要移植實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)，開(kāi)發(fā)底層的硬件驅(qū)動(dòng)程序等。硬件平臺(tái)測(cè)試通過(guò)后，應(yīng)該軟件的開(kāi)發(fā)調(diào)試是基于該硬件平臺(tái)進(jìn)行的，這同時(shí)也是對(duì)硬件平臺(tái)的一個(gè)測(cè)試。因此可以說(shuō)，嵌入式程序的開(kāi)發(fā)過(guò)程是一個(gè)軟硬件互相協(xié)調(diào)，互相反饋和互相測(cè)試的過(guò)程。一般來(lái)說(shuō)，在嵌入式程序中，底層驅(qū)動(dòng)程序、操作系統(tǒng)和應(yīng)用程序的界線是不清晰的，根據(jù)需要甚至混編在一起。這主要是由于嵌入式系統(tǒng)中軟件對(duì)硬件的依賴(lài)性造成的。嵌入式程序?qū)τ布囊蕾?lài)性要求，軟件測(cè)試時(shí)必須最大限度地模擬被測(cè)軟件的實(shí)際運(yùn)行環(huán)境，以保證測(cè)試的可靠性。底層程序和應(yīng)用程序界限的不清晰增加了測(cè)試時(shí)的難度，測(cè)試時(shí)只有確認(rèn)嵌入式程序平臺(tái)及底層程序正確的情況下才能進(jìn)行應(yīng)用程序的測(cè)試，而且在系統(tǒng)測(cè)試時(shí)，錯(cuò)誤的定位較為困難。軟件的專(zhuān)用性也是嵌入式程序的一個(gè)重要特點(diǎn)。

3.嵌入式程序的測(cè)試方法

3.1 嵌入式程序的模塊測(cè)試技術(shù)

把大型的嵌入式程序劃分為若干個(gè)相對(duì)較小的任務(wù)模塊，由不同的程序員分別同時(shí)對(duì)其進(jìn)行編碼。編碼完成后，把各個(gè)模塊集成起來(lái)前，必須對(duì)單個(gè)模塊進(jìn)行測(cè)試。由于沒(méi)有其它數(shù)據(jù)模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)傳遞的支持，該階段測(cè)試一段是在宿主機(jī)上進(jìn)行的（宿主機(jī)有豐富的資源和方便的調(diào)試環(huán)境）。此階段主要是進(jìn)行白盒測(cè)試，盡可能地測(cè)試每一個(gè)函數(shù)、每一個(gè)條件分支、每一個(gè)程序語(yǔ)句，提高代碼測(cè)試的覆蓋率。由于只有單個(gè)模塊正確才有整體集成的必要性，因此，單個(gè)模塊測(cè)試時(shí)測(cè)試一定要充分、完整。模塊測(cè)試階段，測(cè)試用例的構(gòu)造不但要測(cè)試系統(tǒng)正常的運(yùn)行情況，還要進(jìn)行邊界測(cè)試。邊界測(cè)試就是進(jìn)行某一數(shù)據(jù)變量的最大值和最小值的測(cè)試，同時(shí)進(jìn)行越界測(cè)試，即輸入不該輸入的數(shù)據(jù)變量測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)行情況。理想的嵌入式程序是不應(yīng)該由用戶(hù)的信息交互導(dǎo)致死機(jī)的，這也是嵌入式設(shè)計(jì)的一個(gè)基本要求。因此，不論進(jìn)行何種測(cè)試，系統(tǒng)死機(jī)都該被作為測(cè)試錯(cuò)誤處理。在模塊測(cè)試階段，由模塊化編程的基本思想，根據(jù)模塊內(nèi)部的緊湊程序，也可以把大的模塊劃分成小的模塊。在程序內(nèi)部，小模塊之間數(shù)據(jù)傳遞的入口設(shè)計(jì)接口函數(shù)，用于快速地定位錯(cuò)誤。用此模塊嵌套的思想進(jìn)行軟件測(cè)試，需要模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu)清晰，數(shù)據(jù)鏈路簡(jiǎn)單。

3.2 嵌入式程序的集成測(cè)試技術(shù)

單個(gè)軟件模塊測(cè)試正確之后，將所有模塊集成起來(lái)進(jìn)行測(cè)試。本階段主要是找出各模塊之間數(shù)據(jù)傳遞和系統(tǒng)組成后的邏輯結(jié)構(gòu)的錯(cuò)誤。在宿主機(jī)上采用黑盒與白盒相結(jié)合的方法進(jìn)行測(cè)試，要最大限度地模擬實(shí)際運(yùn)行環(huán)境，可以屏蔽掉一些不影響系統(tǒng)執(zhí)行的和數(shù)據(jù)傳遞的難以模擬函數(shù)。集成測(cè)試是模塊化設(shè)計(jì)軟件的測(cè)試優(yōu)點(diǎn)充分體現(xiàn)的階段。集成測(cè)試前，應(yīng)該由程序員根據(jù)模塊之間的數(shù)據(jù)的輸入輸出編寫(xiě)模塊接口函數(shù)，這需要負(fù)責(zé)不同軟件模塊的程序員共同協(xié)調(diào)完成，然后將模塊接口函數(shù)集成到接收數(shù)據(jù)模塊的入口處。由前面的分析可知，單鏈路數(shù)據(jù)傳遞的軟件模塊集成測(cè)試時(shí)容易定位錯(cuò)誤所在的軟件模塊。一個(gè)軟件模塊的數(shù)據(jù)不一定只有另外一個(gè)模塊提供，即軟件模塊的數(shù)據(jù)鏈路不一定只是單鏈路的，測(cè)試時(shí)可以把復(fù)雜鏈路結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)傳遞劃分為單鏈路結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)傳送進(jìn)行錯(cuò)誤定位。修改輸出數(shù)據(jù)的軟件模塊時(shí)，可能導(dǎo)致輸入數(shù)據(jù)的軟件模塊引入新的錯(cuò)誤，因此在這里引入關(guān)聯(lián)矩陣確定修改某一模塊后需要重要測(cè)試的模塊。集成測(cè)試是在擁有程序設(shè)計(jì)文檔、程序結(jié)構(gòu)和數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)時(shí)，對(duì)軟件模塊在集成中出現(xiàn)的錯(cuò)誤進(jìn)行測(cè)試。集成測(cè)試時(shí)，根據(jù)模塊接口函數(shù)定位錯(cuò)誤修改代碼，根據(jù)關(guān)聯(lián)矩陣確定重新測(cè)試的軟件模塊。

3.3 嵌入式程序的系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)

集成測(cè)試完成后，退出宿主機(jī)測(cè)試環(huán)境，把系統(tǒng)移植到目標(biāo)機(jī)上來(lái)，完成應(yīng)用到現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境中，從用戶(hù)的角度對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行黑盒測(cè)試，驗(yàn)證每一項(xiàng)具體的功能。由于測(cè)試者對(duì)程序內(nèi)容程序執(zhí)行情況一無(wú)所知，因此本測(cè)試階段的錯(cuò)誤定位比較困難。系統(tǒng)測(cè)試階段應(yīng)該進(jìn)行意外測(cè)試和破壞性測(cè)試，即測(cè)試系統(tǒng)正常執(zhí)行情況下不該發(fā)生的激發(fā)活動(dòng)和人為的破壞性的測(cè)試，進(jìn)一步驗(yàn)證系統(tǒng)性能。系統(tǒng)測(cè)試階段不應(yīng)該確定錯(cuò)誤后立即修改代碼，應(yīng)根據(jù)一定的錯(cuò)誤發(fā)生頻率，確定測(cè)試周期，在每個(gè)測(cè)試周期結(jié)束時(shí)修改代碼，進(jìn)行反復(fù)測(cè)試；否則，不但增加了完全測(cè)試的任務(wù)量，而且降低了測(cè)試的可信度。

3.4 嵌入式程序的測(cè)試結(jié)果分析

測(cè)試結(jié)果的分析可以定位錯(cuò)誤，指導(dǎo)程序員修改代碼，同時(shí)指出測(cè)試進(jìn)行的程序并進(jìn)一步指明測(cè)試方向。測(cè)試結(jié)果的分析是一個(gè)由測(cè)試結(jié)果和測(cè)試預(yù)得結(jié)果進(jìn)行分析、比較和定位錯(cuò)誤的過(guò)程。測(cè)試結(jié)果的分析是一次測(cè)試的最后環(huán)節(jié)，分析時(shí)應(yīng)該考慮軟件的運(yùn)行環(huán)境和實(shí)際運(yùn)行環(huán)境的差異以及各種外界因素的影響等。

3.5 嵌入式程序的測(cè)試用例的構(gòu)造與管理

測(cè)試用例是為了測(cè)試目標(biāo)程序設(shè)計(jì)的包括輸入項(xiàng)和預(yù)得結(jié)果的一種文件，根據(jù)測(cè)試環(huán)境和測(cè)試目標(biāo)程序的不同，可分為某種格式的文檔或某種輸入行為（如一次按鍵）等。測(cè)試用例的構(gòu)造要盡可能覆蓋所有可能的取值范圍，使測(cè)試盡可能地覆蓋所有程序代碼，提高代碼測(cè)試覆蓋率，同時(shí)又不作多余、重復(fù)和無(wú)意義的測(cè)試。在嵌入式程序測(cè)試的不同階段，要構(gòu)造不同的測(cè)試用例；在系統(tǒng)平臺(tái)測(cè)試階段，要構(gòu)造針對(duì)系統(tǒng)任務(wù)調(diào)度、實(shí)時(shí)性能和底層驅(qū)動(dòng)程序的測(cè)試用例；在模塊測(cè)試階段，應(yīng)構(gòu)造針對(duì)某一模塊進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試用例；在集成測(cè)試階段，針對(duì)系統(tǒng)集成時(shí)數(shù)據(jù)傳遞、結(jié)構(gòu)斜接問(wèn)題構(gòu)造相應(yīng)的測(cè)試用例；在系統(tǒng)測(cè)試階段，要構(gòu)造針對(duì)某項(xiàng)功能的或多項(xiàng)功能結(jié)合在一起的測(cè)試用例，或使用已經(jīng)在同類(lèi)產(chǎn)品上已經(jīng)驗(yàn)證正確的測(cè)試用例。測(cè)試用例是可復(fù)用的。用數(shù)據(jù)庫(kù)的來(lái)管理測(cè)試用例是一個(gè)很好的選擇。

結(jié)語(yǔ)：

文章對(duì)嵌入式程序的特點(diǎn)和測(cè)試方法作了分析，此測(cè)試方法用于工程機(jī)械控制器和數(shù)控系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的測(cè)試。測(cè)試的效率和可靠性滿(mǎn)足要求。希望可以對(duì)專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員和廣大愛(ài)好者提供一些借鑒。

參考文獻(xiàn)

[1] 夏蓮，葉文憑，《論嵌入式程序》，2011.11.24期刊.

篇7

新款2401型數(shù)字源表：業(yè)內(nèi)最低成本SMU儀器?1A／20V量程?替代電源+DMM

與所有吉時(shí)利SMU(源測(cè)量單元)儀器一樣，新推出的2401型數(shù)字源表對(duì)光伏(太陽(yáng)能)電池、高亮度LED(HBLED)、低壓材料和半導(dǎo)體器件的電流與電壓(I―V)特性分析以及電阻測(cè)量等高精度測(cè)試應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化，并且，2401以前所未有的低價(jià)在20V和1A信號(hào)幅度上提供了源和測(cè)量單元的先進(jìn)功能。

吉時(shí)利市場(chǎng)經(jīng)t~CharlesCimino認(rèn)為“2401型數(shù)字源表的性?xún)r(jià)比極高，是測(cè)試和測(cè)量行業(yè)里具有一套完整測(cè)量量程、功能和可編程工作模式的售價(jià)最低的單機(jī)源一測(cè)量?jī)x器?！盋harles接著表示，“2401型數(shù)字源表是配備獨(dú)立可編程電源和數(shù)字萬(wàn)用表的測(cè)試系統(tǒng)，為那些可編程電源精度不足、信號(hào)范圍或分辨率達(dá)不到要求的應(yīng)用提供最經(jīng)濟(jì)的替代測(cè)試方案?！?/p>

在1A／20V量程范圍內(nèi)，2401的操作和編程與2400系列的其它產(chǎn)品完全相同。與源測(cè)量單元系列的其它產(chǎn)品一樣，2401在一個(gè)機(jī)殼中集成了高度穩(wěn)定的直流電源和真儀器級(jí)5位半或6位半萬(wàn)用表。在使用時(shí)，2401可用作電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表，并提供4象限雙極和自動(dòng)源／阱操作。2200系列可編程通用電源產(chǎn)品線

吉時(shí)利新的五款通用可編程直流電源，有效補(bǔ)充了吉時(shí)利用于組件、模塊、器件特性分析和測(cè)試應(yīng)用的現(xiàn)有專(zhuān)業(yè)電源產(chǎn)品線及源測(cè)量?jī)x器組。最新的型號(hào)2200系列電源產(chǎn)品線以經(jīng)濟(jì)有效的價(jià)格、靈活的操作、功能結(jié)合卓越的電壓和電流輸出準(zhǔn)確度，提升了各種器件特性分析和測(cè)試應(yīng)用的易用性：

?2200-20-5型：20V5A，100W

?2200-30-5型：30V5A，150W

?2200-32-3型：32V3A，96W

?22OO一60―2型：60V，2.5A,150W

?2200-72―1型：72V1.2A，86W

2200系列電源的電壓輸出準(zhǔn)確度指標(biāo)為0.03％，電流輸出準(zhǔn)確度指標(biāo)為0.05％。此外，它們的高輸出(1mV)和測(cè)量(0.1mA)分辨率使其非常適于測(cè)量空閑模式和休眠模式電流等應(yīng)用的低功率電路和器件的特性分析，以確保器件滿(mǎn)足當(dāng)今更具挑戰(zhàn)性的能源效率目標(biāo)。背板的遠(yuǎn)程感測(cè)端子和低于5mVp-p的噪聲能保證設(shè)置電壓等于電源實(shí)際輸出的電壓。

篇8

【關(guān)鍵詞】軟件測(cè)試；產(chǎn)品；目標(biāo)；原則；工具

軟件測(cè)試是在規(guī)定的條件下對(duì)程序進(jìn)行操作，以發(fā)現(xiàn)程序錯(cuò)誤，衡量軟件質(zhì)量，并對(duì)其是否能滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求進(jìn)行評(píng)估的過(guò)程。為了有效保證軟件產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的效率和質(zhì)量，減少軟件維護(hù)的困難，就必須重視軟件測(cè)試。在計(jì)算機(jī)軟件技術(shù)發(fā)展迅速的今天，軟件測(cè)試逐步走向了自動(dòng)化，這不僅可以對(duì)軟件測(cè)試的過(guò)程進(jìn)行有效的把控，還能提升整體測(cè)試的水平。在軟件測(cè)試工作中有一個(gè)重要問(wèn)題，那就是要促實(shí)現(xiàn)知識(shí)管理過(guò)程與軟件測(cè)試過(guò)程有效集成，從而促進(jìn)知識(shí)資產(chǎn)在軟件測(cè)試組織中的傳播與重用。軟件測(cè)試是一項(xiàng)知識(shí)密集型活動(dòng)，為此作為軟件設(shè)計(jì)師必須充分了解軟件測(cè)試的相關(guān)知識(shí)、技巧，這樣才能充分利用現(xiàn)代化測(cè)試技術(shù)進(jìn)行軟件測(cè)試。

一、軟件測(cè)試的目標(biāo)

1.軟件測(cè)試員的基本目標(biāo)就是為了發(fā)現(xiàn)軟件缺陷。成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試。測(cè)試并不僅僅是為了找出錯(cuò)誤，而要通過(guò)分析錯(cuò)誤產(chǎn)生的原因和錯(cuò)誤的發(fā)生趨勢(shì)，可以幫助項(xiàng)目管理者發(fā)現(xiàn)當(dāng)前軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的缺陷，以便及時(shí)改進(jìn)。但是目前很多軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)不是去找軟件中的缺陷，而只是為了證實(shí)軟件中不存在錯(cuò)誤，可以很好滿(mǎn)足用戶(hù)需求。這樣的話，軟件工程師就沒(méi)有探索和發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的熱情，不希望在測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題，這樣就很容易放過(guò)軟件中隱藏的錯(cuò)誤和缺陷。

2.軟件測(cè)試員還必須盡早地發(fā)現(xiàn)軟件錯(cuò)誤。測(cè)試應(yīng)該盡早進(jìn)行，最好在需求階段就開(kāi)始介入，這樣才能做到早發(fā)現(xiàn)、早解決。據(jù)相關(guān)數(shù)字統(tǒng)計(jì)資料顯示，軟件缺陷存在時(shí)間越長(zhǎng)，修復(fù)費(fèi)用將會(huì)越高，而且以數(shù)十倍在增長(zhǎng)，從經(jīng)濟(jì)、效率的角度來(lái)看，工作人員也必須盡早發(fā)現(xiàn)、解決軟件錯(cuò)誤。同時(shí)還需要在整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)的過(guò)程中都要進(jìn)行軟件測(cè)試，這樣才能盡可能全面地發(fā)現(xiàn)軟件中潛在的缺陷，盡早的解決。

3. 軟件測(cè)試人員必需確保找出的軟件缺陷得以關(guān)閉，而不是要軟件缺陷得以修復(fù)。因?yàn)樵谲浖y(cè)試工作中，成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤，切實(shí)站在用戶(hù)的角度，將更深層潛在的問(wèn)題都測(cè)試出來(lái)。因?yàn)闀r(shí)間、風(fēng)險(xiǎn)因素的限制并非所有的軟件缺陷都必須而且能夠得以修復(fù)，那么這是就需要軟件測(cè)試人員盡可能找到軟件存在的缺陷并關(guān)閉缺陷。

二、軟件測(cè)試的基本原則

1.軟件測(cè)試應(yīng)該盡早進(jìn)行，最好在需求分析階段就開(kāi)始介入。只有這樣才能全方位地發(fā)現(xiàn)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中存在的問(wèn)題，這樣才能做到早發(fā)現(xiàn)、早解決。軟件缺陷存在時(shí)間越長(zhǎng)，修復(fù)費(fèi)用將會(huì)越高，而且以數(shù)十倍在增長(zhǎng)，從經(jīng)濟(jì)、效率的角度來(lái)看，工作人員也必須盡早發(fā)現(xiàn)、解決軟件錯(cuò)誤。

2. 程序員應(yīng)該避免檢查自己的程序，軟件測(cè)試應(yīng)該由第三方來(lái)負(fù)責(zé)。當(dāng)一個(gè)程序員完成了設(shè)計(jì)與編寫(xiě)程序的建設(shè)性工作后，要一夜之間突然改變他的觀點(diǎn)，設(shè)法對(duì)程序形成一個(gè)完全否定的態(tài)度，那是非常困難的。所以，大部分程序員都由于不能使自己進(jìn)入必要的精神狀態(tài)就不能有效的測(cè)試自己的程序。如果有條件的話，應(yīng)當(dāng)由獨(dú)立于開(kāi)發(fā)組和客戶(hù)的第三方測(cè)試組或測(cè)試機(jī)構(gòu)來(lái)進(jìn)行軟件測(cè)試。

3.設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)應(yīng)考慮到合法的輸入和不合法的輸入以及各種邊界條件，特殊情況下要制造極端狀態(tài)和意外狀態(tài)，如網(wǎng)絡(luò)異常中斷、電源斷電等。

4.還必須應(yīng)該充分注意測(cè)試中的集群現(xiàn)象。

5.對(duì)錯(cuò)誤結(jié)果要進(jìn)行一個(gè)確認(rèn)過(guò)程。一般由A測(cè)試出來(lái)的錯(cuò)誤，一定要由B來(lái)確認(rèn)。嚴(yán)重的錯(cuò)誤可以召開(kāi)評(píng)審會(huì)議進(jìn)行討論和分析，對(duì)測(cè)試結(jié)果要進(jìn)行嚴(yán)格地確認(rèn)，是否真的存在這個(gè)問(wèn)題以及嚴(yán)重程度等。

6.制定嚴(yán)格的測(cè)試計(jì)劃。一定要制定測(cè)試計(jì)劃，并且要有指導(dǎo)性。測(cè)試時(shí)間安排盡量寬松，不要希望在極短的時(shí)間內(nèi)完成也有一個(gè)高水平的測(cè)試。

7.妥善保存測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例、出錯(cuò)統(tǒng)計(jì)和最終分析報(bào)告，為維護(hù)提供方便。

三、軟件測(cè)試的階段性分析

（一）發(fā)現(xiàn)和解決缺陷的階段。在這個(gè)階段要盡可能多的發(fā)現(xiàn)缺陷。在這個(gè)階段，測(cè)試工作主要集中于發(fā)現(xiàn)缺陷，為此要具備考驗(yàn)測(cè)試設(shè)計(jì)得能力，發(fā)現(xiàn)缺陷之后還要能夠清晰的描述、定級(jí)、跟進(jìn)和驗(yàn)證，要充分理解業(yè)務(wù)和架構(gòu)，發(fā)現(xiàn)一類(lèi)問(wèn)題能夠舉一反三發(fā)現(xiàn)更多類(lèi)似的問(wèn)題。

（二）質(zhì)量管理。為了持續(xù)的優(yōu)化軟件，形成一個(gè)良性的循環(huán)系統(tǒng)，為此還必須加強(qiáng)對(duì)缺陷的分析和考核，有效地梳理和改善研發(fā)流程中出現(xiàn)的問(wèn)題。首先要做質(zhì)量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析，收集的數(shù)據(jù)很多，常見(jiàn)的有：外網(wǎng)的缺陷情況，包括事故，及影響的程度；測(cè)試階段的缺陷數(shù)量，分布，嚴(yán)重程度，缺陷的類(lèi)別等維度；缺陷的橫向跨團(tuán)隊(duì)和系統(tǒng)的對(duì)比，縱向的和歷史情況對(duì)比；版本的情況，代碼變更行數(shù)的情況。其次就是問(wèn)題的追溯和對(duì)于開(kāi)發(fā)的考核，光靠觀念和自覺(jué)是不夠的，必需要有一定的反饋機(jī)制，這樣才能起到良好的約束作用，通常的考核指標(biāo)涉及這些方面：編譯失敗次數(shù)的考核； 外網(wǎng)事故和缺陷的數(shù)量；測(cè)試階段的缺陷，特別是基礎(chǔ)功能缺陷和嚴(yán)重缺陷，如果剔除其他因素只看開(kāi)發(fā)代碼原因的編譯失敗則更明顯，特別是后面有懲罰機(jī)制之后，進(jìn)一步下降。再次就是對(duì)于測(cè)試的考核，測(cè)試的考核通?？紤]下面的指標(biāo)：漏測(cè)：絕對(duì)數(shù)量或者漏測(cè)率；版本的工作量和測(cè)試效率；延期的情況。最后就是要推動(dòng)開(kāi)發(fā)的自測(cè)，這通常取決于開(kāi)發(fā)負(fù)責(zé)人的觀念和態(tài)度，有良好的自動(dòng)化條件效果就會(huì)更好。

（三）推動(dòng)全面的質(zhì)量提升。首先要管理好整個(gè)研發(fā)流程；其次就是提交測(cè)試前后的一些事情，采用代碼的靜態(tài)掃描和 code review；再就是要注意不斷提升測(cè)試能力，采用自動(dòng)化技術(shù)和一些輔助手段；還要注重把控環(huán)節(jié)的質(zhì)量，了解到不同的組織做法不同，執(zhí)行的人員可能不同，有開(kāi)發(fā)，運(yùn)維，專(zhuān)職的版本管理或者測(cè)試來(lái)做；最后還要提升整體的運(yùn)營(yíng)質(zhì)量。

參考文獻(xiàn)：

[1]史濟(jì)民.軟件工程原理方法與應(yīng)用[M].北京：高等教育出版社，2001.

篇9

【關(guān)鍵詞】工程測(cè)繪測(cè)量；技術(shù)；工程建設(shè)

工程建設(shè)是推動(dòng)我國(guó)社會(huì)發(fā)展的重要力量，做好工程建設(shè)前期的測(cè)量與測(cè)繪工作，能夠有效的降低工程的施工難度，保證工程建設(shè)的順利進(jìn)行。而當(dāng)前常見(jiàn)的工程測(cè)繪測(cè)量技術(shù)種類(lèi)眾多，各具特點(diǎn)，根據(jù)工程的實(shí)際情況選擇恰當(dāng)?shù)臏y(cè)量測(cè)繪技術(shù)，提高工程測(cè)量測(cè)繪的準(zhǔn)確性與可靠性，對(duì)促進(jìn)我國(guó)的社會(huì)主義現(xiàn)代化建設(shè)有著十分重要的作用。

1、工程測(cè)量測(cè)繪技術(shù)的作用

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，工程測(cè)繪測(cè)量技術(shù)的水平也有了顯著的提高，例如，衛(wèi)星定位技術(shù)、衛(wèi)星航拍技術(shù)、電子信息技術(shù)、低空遙感技術(shù)等先進(jìn)手段，已經(jīng)被廣泛的用于工程測(cè)繪測(cè)量領(lǐng)域當(dāng)中，大大提高了工程測(cè)繪測(cè)量技術(shù)的準(zhǔn)確性與可靠性，同時(shí)也使得工程測(cè)量測(cè)繪技術(shù)能夠適應(yīng)更加復(fù)雜的環(huán)境，從而為工程的實(shí)施提供更加充分詳實(shí)的資料，對(duì)保障我國(guó)工程建設(shè)工作的快速穩(wěn)步發(fā)展有著至關(guān)重要的作用。

工程測(cè)量測(cè)繪技術(shù)是工程測(cè)量領(lǐng)域發(fā)展的核心，通過(guò)合理的應(yīng)用工程測(cè)量技術(shù)，對(duì)建筑項(xiàng)目所在地及其周邊的地表、地下、水體及空中的環(huán)境狀況進(jìn)行深入的考察與了解，能夠幫助工程的設(shè)計(jì)與管理人員充分的掌握工程建設(shè)的難度，并對(duì)施工過(guò)程中的重點(diǎn)與難點(diǎn)加以控制，達(dá)到提高工程質(zhì)量，確保工程順利實(shí)施的目的。對(duì)工程測(cè)繪測(cè)量技術(shù)進(jìn)行研究，能夠進(jìn)一步了解不同工程測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì)和不足，對(duì)工程建設(shè)行業(yè)的發(fā)展起到了良好的推動(dòng)作用。

2、工程測(cè)繪測(cè)量技術(shù)的分類(lèi)及特點(diǎn)

2.1 全球衛(wèi)星定位技術(shù)

全球衛(wèi)星定位技術(shù)簡(jiǎn)稱(chēng)GPS，是通過(guò)衛(wèi)星導(dǎo)航定位系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)空間精確定位的一種定位及導(dǎo)航技術(shù)，由于功能強(qiáng)大，GPS技術(shù)在諸多領(lǐng)域均有著廣泛的應(yīng)用。將GPS技術(shù)引入到工程測(cè)量行業(yè)當(dāng)中之后，工程測(cè)量技術(shù)得到了極大的發(fā)展，由此衍生出的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)（RTK）技術(shù)便是GPS技術(shù)與工程測(cè)量技術(shù)完美結(jié)合的典范。RTK技術(shù)是建立基站與流動(dòng)站，并以流動(dòng)站與基站之間信號(hào)的變化為依據(jù)，對(duì)需要測(cè)量的區(qū)域進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)的一種工程測(cè)繪測(cè)量技術(shù)。具體來(lái)說(shuō)，RTK技術(shù)是將一臺(tái)GPS接收機(jī)作為原始的坐標(biāo)點(diǎn)，安裝在基站所在的位置，收集相應(yīng)的衛(wèi)星數(shù)據(jù)。同時(shí)，另外一臺(tái)GPS接收機(jī)則跟隨流動(dòng)站對(duì)需要測(cè)量的區(qū)域進(jìn)行觀測(cè)，并對(duì)基站的信號(hào)進(jìn)行同步接收與對(duì)比，通過(guò)相應(yīng)的計(jì)算軟件求出流動(dòng)站所在的位置，最終得出精度可達(dá)厘米級(jí)的工程測(cè)繪測(cè)量數(shù)據(jù)。RTK測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用，大大降低了工程測(cè)繪測(cè)量的工作難度，縮短了工作時(shí)間，同時(shí)也有效的提高了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性，對(duì)工程測(cè)繪測(cè)量技術(shù)的發(fā)展起到了十分重要的作用。

2.2 數(shù)字化繪圖技術(shù)

在以往的工程測(cè)繪測(cè)量過(guò)程當(dāng)中，繪圖始終是測(cè)繪工作的重點(diǎn)與難點(diǎn)，數(shù)字化繪圖的誕生有效的解決了繪圖過(guò)程中工作難度高、耗費(fèi)時(shí)間長(zhǎng)等關(guān)鍵問(wèn)題，大大縮短了成圖時(shí)間，降低了繪圖工作的難度。同時(shí)，數(shù)字化繪圖技術(shù)還具有精確度高，傳輸與存儲(chǔ)快捷方便等特點(diǎn)，因而在工程測(cè)繪測(cè)量領(lǐng)域得到了廣泛的推廣。在進(jìn)行數(shù)字化繪圖的過(guò)程中，首先需要工作人員嚴(yán)格按照相關(guān)要求，對(duì)指定地點(diǎn)進(jìn)行數(shù)據(jù)的整理與采集，以保證錄入的信息準(zhǔn)確全面，能夠完整的反應(yīng)當(dāng)?shù)氐牡孛蔡卣鳎瑥亩诟旧媳ＷC繪圖的質(zhì)量。同時(shí)，在進(jìn)行數(shù)字繪圖之前，需要詳細(xì)的繪制草圖，表明不同地點(diǎn)之間的關(guān)系，從而降低成圖過(guò)程中發(fā)生問(wèn)題的可能性，使地圖內(nèi)容更加準(zhǔn)確。當(dāng)前，被廣泛采用的數(shù)字化成圖技術(shù)主要包括了電子平板模式與內(nèi)外業(yè)一體化模式兩種。其中，電子平板模式由于無(wú)需對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼，因此其數(shù)據(jù)采集工作、圖形編輯過(guò)程以及數(shù)據(jù)處理流程可以在處理現(xiàn)場(chǎng)統(tǒng)一進(jìn)行，具有反饋速度快，成圖精度高等特點(diǎn)。此外，如果使用掌上電腦對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，則可以進(jìn)一步提高電子平板繪圖模式的機(jī)動(dòng)性與靈活性，使得該模式在市政工程中得到廣泛的應(yīng)用。而內(nèi)外業(yè)一體化技術(shù)則是建立在內(nèi)外業(yè)明確分工、協(xié)調(diào)配合基礎(chǔ)上的一種數(shù)據(jù)采集與處理方法，具有成圖比例靈活、測(cè)量精度高、作業(yè)難度低以及管理維護(hù)方便等特點(diǎn)，因此在工程測(cè)量測(cè)繪領(lǐng)域得到了快速的普及。

2.3 遙感技術(shù)

遙感技術(shù)的涵蓋范圍相對(duì)較為寬泛，主要包括有衛(wèi)星遙感、低空航拍、航天攝影等多種方式。此外，根據(jù)測(cè)量波普性質(zhì)的不同，還可以將遙感技術(shù)分為電磁波遙感、聲學(xué)遙感以及物理場(chǎng)遙感等。隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，遙感技術(shù)的精確性和適應(yīng)性也有了顯著的提高。在工程測(cè)繪測(cè)量方面，采用遙感技術(shù)能夠快速有效的得到需要的信息，從而及時(shí)的提供工程建設(shè)所需的數(shù)據(jù)，成為其他測(cè)繪測(cè)量技術(shù)的有力補(bǔ)充，在工程測(cè)繪測(cè)量工作中發(fā)揮著難以替代的重要作用。

2.4 GIS地理信息技術(shù)

GIS地理信息技術(shù)是建立在計(jì)算機(jī)技術(shù)和數(shù)據(jù)庫(kù)技術(shù)的基礎(chǔ)之上，融合了多個(gè)領(lǐng)域相關(guān)知識(shí)的綜合性技術(shù)。通過(guò)使用地理信息技術(shù)，工程測(cè)量測(cè)繪人員能夠?qū)⒌乇淼臉?biāo)志物與其地理位置一一對(duì)應(yīng)，并利用電子計(jì)算機(jī)加以表現(xiàn)，從而達(dá)到為工程建設(shè)提供依據(jù)的目的。在建立GIS系統(tǒng)時(shí)，需要注意對(duì)已有信息進(jìn)行數(shù)字化處理，并修補(bǔ)數(shù)據(jù)中的漏洞與錯(cuò)誤，使數(shù)字地圖的生成有理可依、有據(jù)可查，保證數(shù)據(jù)的質(zhì)量，完善系統(tǒng)的使用功能。

將地理信息技術(shù)應(yīng)用在工程測(cè)繪測(cè)量領(lǐng)域當(dāng)中，可以大大提高空間地理信息的管理效率，降低數(shù)據(jù)更新與分析的難度，并可以與其他技術(shù)完美的結(jié)合，推動(dòng)者工程測(cè)繪測(cè)量技術(shù)不斷向著智能化、自動(dòng)化與人性化的方向發(fā)展。

3、結(jié)論

隨著科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展，將會(huì)有更多先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)被應(yīng)用到工程的測(cè)繪與測(cè)量過(guò)程當(dāng)中，促進(jìn)工程測(cè)量測(cè)繪技術(shù)向著數(shù)字化、智能化、自動(dòng)化、網(wǎng)絡(luò)化以及多元化的方向發(fā)展，進(jìn)一步提高工程測(cè)量測(cè)繪的質(zhì)量，為我國(guó)的社會(huì)主義現(xiàn)代化建設(shè)貢獻(xiàn)力量。

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篇10

【關(guān)鍵詞】61A單片機(jī)；震蕩電路；脈沖計(jì)數(shù)法

0 引言

電阻測(cè)試儀是實(shí)驗(yàn)室的必備儀器。目前常用的電阻測(cè)試儀制作繁瑣，程序編寫(xiě)復(fù)雜，成本太高，不具有記憶功能等。本文應(yīng)用單片機(jī)技術(shù)，結(jié)合電路并采用適當(dāng)?shù)乃惴ㄈ〈鷤鹘y(tǒng)電路，設(shè)計(jì)了一種多量程電阻測(cè)試儀，不僅能克服傳統(tǒng)電阻測(cè)試儀結(jié)構(gòu)復(fù)雜的弊端，而且性能也將大幅提高，可以滿(mǎn)足較高且恒定的測(cè)量精度和較寬測(cè)量范圍的要求，同時(shí)增設(shè)了記憶功能和警示信號(hào)功能，使電阻測(cè)試儀更加智能。

1 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

該電阻測(cè)試儀系統(tǒng)功能框架如圖1所示，該系統(tǒng)主要由用戶(hù)控制模塊、中央處理系統(tǒng)、終端顯示模塊、電阻測(cè)試模塊、報(bào)警器模塊以及其它附加功能模塊等組成。

圖1 電阻測(cè)試儀系統(tǒng)功能框架圖

當(dāng)用戶(hù)需要測(cè)量某一電阻的值時(shí)，只需要把此電阻放在相應(yīng)的測(cè)試處，選擇好量程，測(cè)試儀即可自動(dòng)測(cè)試出此電阻的值，并把測(cè)試結(jié)果顯示在液晶屏上，方便用戶(hù)讀取，該測(cè)試儀還具有超出量程警示功能和記憶功能，可存儲(chǔ)最近十次的測(cè)量結(jié)果。

2 各功能模塊介紹

2.1 電阻測(cè)試電路

電阻測(cè)試電路測(cè)量電阻主要采用“脈沖計(jì)數(shù)法”，電路圖如圖2所示。

圖2 電阻測(cè)試硬件電路

2.2 SPCE061A單片機(jī)

該設(shè)計(jì)采用SPCE061A型單片機(jī)。SPCE061A型單片機(jī)是凌陽(yáng)科技公司最新推出的一款16位微處理器，具有體積小、集成度高、易擴(kuò)展、可靠性高、功耗低、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、中斷處理能力強(qiáng)等特點(diǎn)，內(nèi)嵌32K字閃存FLASH，處理速度高，能夠很方便地完成普通單片機(jī)的功能，其內(nèi)部有兩路10位數(shù)/模轉(zhuǎn)換（DAC）輸出通道和7通道10位電壓模/數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）和單通道聲音模/數(shù)轉(zhuǎn)換器，可以滿(mǎn)足將較復(fù)雜的電路模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)/模轉(zhuǎn)換的需求，不需要外接轉(zhuǎn)換芯片，節(jié)省成本，降低電路的復(fù)雜程度，尤其適應(yīng)于數(shù)字語(yǔ)音播報(bào)和識(shí)別等應(yīng)用領(lǐng)域，得到廣泛應(yīng)用。

將圖2電路輸出端連接到單片機(jī)的輸入端，單片機(jī)通過(guò)對(duì)硬件電路的輸出信號(hào)進(jìn)行采樣并通過(guò)模/數(shù)轉(zhuǎn)換，計(jì)算出電路輸出信號(hào)的頻率。然后按照電阻、頻率轉(zhuǎn)換公式編寫(xiě)相應(yīng)的程序，便可以計(jì)算出所測(cè)電阻的阻值。

單片機(jī)與液晶顯示器、鍵盤(pán)、報(bào)警器相連。將所測(cè)電阻的阻值送到液晶顯示器顯示，通過(guò)鍵盤(pán)選擇不同的電阻測(cè)量量程以對(duì)應(yīng)不同的公式參數(shù)。當(dāng)所測(cè)電阻的阻值超過(guò)當(dāng)時(shí)的量程時(shí)單片機(jī)控制報(bào)警器發(fā)出報(bào)警聲。

2.3 液晶顯示

采用128*64的點(diǎn)陣式液晶顯示模塊，可以把各種信息及時(shí)的顯示在液晶屏上，方便用戶(hù)讀取，采用128*64的點(diǎn)陣式液晶顯示模塊，使系統(tǒng)和用戶(hù)有了良好的人機(jī)交互界面，給用戶(hù)帶來(lái)極大地方便。顯示的內(nèi)容主要有所測(cè)電阻阻值、量綱、測(cè)量時(shí)間。通過(guò)對(duì)單片機(jī)的控制還可以顯示出最近十次的測(cè)量結(jié)果。

圖3 系統(tǒng)程序設(shè)計(jì)流程圖

（上接第182頁(yè)）2.4 用戶(hù)輸入

系統(tǒng)采用的是4*4的矩陣式鍵盤(pán)，方便用戶(hù)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行控制，使系統(tǒng)功能更加完善，更加多樣化，滿(mǎn)足用戶(hù)不同的需求。通過(guò)編寫(xiě)程序?qū)崿F(xiàn)對(duì)鍵盤(pán)的控制，使不同的按鍵對(duì)應(yīng)不同的量程，使量程轉(zhuǎn)換方便快捷。

3 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)

本軟件采用結(jié)構(gòu)化程序設(shè)計(jì)方法和思路，各功能程序?qū)崿F(xiàn)模塊化、子程序化，增加程序的可讀性。系統(tǒng)程序設(shè)計(jì)流程如圖3所示。

3.1 鍵盤(pán)掃描流程

編寫(xiě)鍵盤(pán)掃描程序并下載到單片機(jī)中。通過(guò)設(shè)置IRQ6終端打開(kāi)鍵盤(pán)掃描程序，鍵盤(pán)掃描程序打開(kāi)后，單片機(jī)每隔1/128秒掃描一次按鍵，如果有按鍵按下，經(jīng)過(guò)消抖程序后再次檢測(cè)，若第二次檢測(cè)仍有按鍵按下，則返回相應(yīng)的鍵值。

3.2 鍵值轉(zhuǎn)換流程

單片機(jī)確認(rèn)有按鍵按下，返回相應(yīng)的鍵值后，通過(guò)內(nèi)部編寫(xiě)的程序?qū)⒎祷氐逆I值轉(zhuǎn)換為十六進(jìn)制數(shù)，以便于程序的條件判斷。

3.3 內(nèi)部Flash數(shù)據(jù)存取流程

通過(guò)編程，將每次測(cè)量的時(shí)間、元件類(lèi)型、大小等參數(shù)寫(xiě)入內(nèi)部Flash（存入數(shù)據(jù)數(shù)值不會(huì)改變），需要時(shí)，能夠讀取近十次的測(cè)試記錄，以方便用戶(hù)查詢(xún)。用戶(hù)可以方便的通過(guò)按鍵對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行查詢(xún)和管理。

3.4 計(jì)時(shí)流程

使用單片機(jī)內(nèi)部的定時(shí)器，編寫(xiě)時(shí)鐘程序，通過(guò)時(shí)鐘程序?qū)r(shí)間進(jìn)行保存并保持和實(shí)際時(shí)間的同步，內(nèi)部時(shí)間采用24小時(shí)制。

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